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      日置HIOKI在半導體器件測試中的應用


        來源: 日置HIOKI 時間:2021-01-20 編輯:清風
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      半導體是什么


      半導體是指常溫下導電性能介于導體和絕緣體質檢的材料,目前,常用的半導體材料包括三種:硅、鍺、砷化鎵。


      平時說的半導體,其實是指半導體元器件(或集成電路),也就是由半導體材料制造的電子元器件(或集成電路)。



      半導體應用領域


      半導體在我們熟悉的集成電路、消費電子、通信系統、光伏發電、照明、汽車電子、大功率電源轉換等領域都有應用,而日置HIOKI的測試儀器如功率分析儀、記錄儀、數采、電池測試儀、LCR、阻抗測試儀等也在這些領域擔任著重要的測試任務。


      日置HIOKI在半導體C-V測試上應用


      那么日置產品在半導體元器件(或集成電路)測試中的應用有哪些呢?以晶圓級MOSFET為例,晶圓電容-電壓(C-V)特性曲線測試是半導體參數測試中的比較關注的一部分,CV頻率范圍根據不同的器件有1Hz-100Hz、10Hz-10KHz、10KHz-1MHz或者更高頻段,通過上位機軟件在固定頻段下以0.1V或者0.5V的步進掃描電壓測試C值,電壓范圍有-5V~+5V、

      -10V~+10V、-20V~+20V、-30V~

      +30V、-40V~+40V或者更高。(支持第三方軟件控制)



      通過C-V測量還可以對其他類型半導體器件和工藝進行特征分析,如:BJT晶體管,二極管與PN結,III-V族化合物,二維材料,金屬材料,光子檢測器件,鈣鈦礦與太陽能電池,LED與薄膜晶體管,非易失性存儲器與材料,MEMS與傳感器,分子與納米器件,半導體器件特性分析與建模,器件噪聲特性分析以及檢測工藝參數和失效分析機制等。




      擴展應用


      半導參數測試中除了CV電容電壓特性曲線測試,還有IV電流電壓特性曲線測試,可以將LCR測試儀IM3536搭配皮安表SM7110以及其他測試儀器進行系統集成。


      劃重點

      產品介紹


      01、低頻阻抗分析儀IM3590


      用于測試器件、材料等

      ● 針對DC以及1mHz~200kHz范圍內的頻率帶寬可設置5位的分辨率(100Hz不到是1mHz分辨率)。能夠進行共振頻率的測量和在接近工作條件的狀態下進行測量、評估。

      ● 測量頻率1kHz,測量速度FAST時,可達最快2ms。有助于掃頻高速化。

      ● Z的基本精度是±0.05%。從零部件檢查到研究開發的測量,都能達到推薦精度。


      02、LCR測試儀IM3536

      直流偏置電壓高達±500V

      ● 測量頻率DC,4Hz~8MHz

      ● 測量時間:最快1ms

      ● 基本精度:±0.05% rdg.

      ● mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進行低阻測量

      ● 可內部發生DC偏壓測量

      ● 從研發到生產線活躍在各種領域中


      03、高頻阻抗分析儀IM7587

      可穩定測量高達3GHz的阻抗

      ● 測試電壓測量頻率:1MHz~3GHz

      ● 測量時間:最快0.5ms(模擬測量時間)

      ● 測量值偏差:0.07%(用3GHz測量線圈1nH時)

      關鍵詞:日置 HIOKI 半導體 器件測試    瀏覽量:29956

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